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Synopsis
The Second Edition explores several new applications of EELS developed during the last ten years. The chapters include recent progress in parallel-recording detectors and image-filtering systems as well as spectral fine structure. This edition also features updated computer programs which will perform spectrum deconvolution and compute partial ionization cross-sections.
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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope - Epidemiology and Control
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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope - Epidemiology and Control
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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (The Language of Science)
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ISBN 10 : 0306452235
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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (The Language of Science)
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