Defects in Microelectronic Materials and Devices - Couverture souple

 
9780367386399: Defects in Microelectronic Materials and Devices
Couverture souple
ISBN 10 : 0367386399 ISBN 13 : 9780367386399
Editeur : CRC Press, 2019

Synopsis

Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.

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À propos de l?auteur

Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf

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Éditeur
CRC Press
Date d'édition
2019
Langue
anglais
ISBN 10 
0367386399
ISBN 13 
9780367386399
Reliure
Broché
Nombre de pages
772
Éditeur
Fleetwood Daniel M., Schrimpf Ronald D.
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
gpsr@libri.de
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Allemagne

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