Defects microelectronic materials devices (31 résultats)

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    Edité par CRC Press, 2008

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    Edité par CRC Press, 2008

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    Edité par CRC Press, 2008

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    Edité par CRC Press, 2008

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    Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books

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    Hardcover. Etat : Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

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    Edité par Taylor & Francis Group, 2008

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    Vendeur : Books Puddle, Woodside, NY, Etats-UnisBooks Puddle

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    Etat : New. pp. 770.

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    Edité par CRC Press, 2008

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    Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna

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    Etat : New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.

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    Edité par CRC Pr I Llc, 2008

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    Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books

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    Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.

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    Edité par Taylor & Francis Group, 2008

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    Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios

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    Quantité disponible : 3 disponibles

    Etat : New. pp. 770.

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    Edité par Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008

    1420043765 / 9781420043761

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    Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Etat : Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.…

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    Edité par Taylor & Francis Ltd, 2019

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    Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-UniTHE SAINT BOOKSTORE

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  • Langue : anglais

    Edité par CRC Press 2019-10, 2019

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    PAP. Etat : New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.

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    PAP. Etat : New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.

  • Langue : anglais

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    Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.…

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    EUR 44,97 expédition 
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    Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.…