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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - Couverture rigide

 
9780412145612: Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques

Synopsis

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.

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9781461372318: Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques

Edition présentée

ISBN 10 :  1461372313 ISBN 13 :  9781461372318
Editeur : Springer, 2012
Couverture souple

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Wagner, Lawrence C.
Edité par Springer, 1999
ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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Wagner, Lawrence C. [Editor]
Edité par Springer, 1999
ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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Lawrence C. Wagner
Edité par Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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Wagner, Lawrence C. [Editor]
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ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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Edité par Springer, 1999
ISBN 10 : 0412145618 ISBN 13 : 9780412145612
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