Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - Couverture rigide
Livre 195 sur 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Synopsis
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
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Springer, 1999
ISBN 10 : 0412145618
ISBN 13 : 9780412145612
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494)
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9780412145612
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Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques
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Buch. Etat : Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Buch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 1999 | Springer | EAN 9780412145612 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 102610198
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Failure Analysis of Integrated Circuits
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Chapman and Hall, 1999
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Etat : New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Editor(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . . N° de réf. du vendeur V9780412145612
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