Failure analysis integrated circuits (32 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Etats-UnisMahler Books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Assez bon
EUR 13,49
EUR 4,33 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Very Good. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Some scraping inside front cover from removal of a stubborn book plate. Inside pages are clean. ; The Springer International Series In Engineering And Computer Science, 494; 268 pages.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Etats-UnisWorld of Books (was SecondSale)
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Assez bon
EUR 55,83
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : Studibuch, Stuttgart, AllemagneStudibuch
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Assez bon
EUR 37,72
EUR 62,30 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : Gut. 268 Seiten; 9780412145612.3 Gewicht in Gramm: 1.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Etats-UnisBennettBooksLtd
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 132,15
EUR 6,09 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 164,78
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 164,78
EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 180,88
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 164,76
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 215,27
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 272.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandeKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 201,02
EUR 10,50 expéditionExpédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Etat : New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Editor(s)…: Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . .
Autres imagesLangue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 140,00
EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 6…9121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 216,52
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 276.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AllemagneBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Assez bon
EUR 189,90
EUR 39,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : gut. 1999. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) In deutscher Sprache. pages.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 167,14
EUR 62,09 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integr…ated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 168,73
EUR 62,91 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated ci…rcuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Comme neuf
EUR 239,07
EUR 17,41 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Occasion - Comme neuf
EUR 229,52
EUR 29,02 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-UnisKennys Bookstore
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 255,17
EUR 9,19 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Etat : New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Editor(s)…: Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Comme neuf
EUR 263,91
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
- Couverture souple
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Occasion - Satisfaisant
EUR 279,73
EUR 29,02 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalieBrook Bookstore On Demand
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 126,26
EUR 5,50 expéditionExpédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand.
Langue : anglais
Edité par Springer US Nov 2012, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 160,49
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root caus…e of electrical failures in integrated circuits. 272 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer US, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 136,16
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This must have reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding…the root cause of electrical fa.
Langue : anglais
Edité par Springer US Jan 1999, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 160,49
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of el…ectrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer US, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 136,16
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This must have reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding…the root cause of electrical fa.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 141,20
EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Buch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 1999 | Springer | EAN 9780412145612 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelber…g, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer Jan 1999, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 160,49
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in i…ntegrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 276 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer Nov 2012, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 160,49
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failur…es in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 272 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 228,65
EUR 7,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand pp. 272 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : The Springer International Series in Engineering and Computer Science, Livre 195 sur 260. Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 229,24
EUR 7,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand pp. 276 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
