Failure analysis integrated circuits (32 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Etat : New. pp. 276.
Autres imagesLangue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Etat : Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 6…9121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandeKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Etat : New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Editor(s)…: Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . .
Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Etat : gut. 1999. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) In englischer Sprache. pages.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integr…ated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated ci…rcuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Edité par Chapman and Hall, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Etat : New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Editor(s)…: Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,28 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 281,95
EUR 29,25 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalieBrook Bookstore On Demand
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Edité par Springer US Nov 2012, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root caus…e of electrical failures in integrated circuits. 272 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer US Jan 1999, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 160,49
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of el…ectrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer US, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This must have reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding…the root cause of electrical fa.
Langue : anglais
Edité par Springer US, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Buch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 1999 | Springer | EAN 9780412145612 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelber…g, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Edité par Springer, Springer Jan 1999, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in i…ntegrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 276 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer Nov 2012, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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EUR 160,49
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failur…es in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 272 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,60 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Langue : anglais
Edité par Springer, 1999
Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,60 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand pp. 276 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
