Failure Analysis of Integrated Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer US Jan 1999, 1999

0412145618 / 9780412145612

Série : Livre 195 sur 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9780412145612

Titre
Failure Analysis of Integrated Circuits
Auteur
Lawrence C. Wagner
Éditeur
Springer US Jan 1999
Année de publication
1999
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0412145618
ISBN à 13 chiffres
9780412145612
Poids de l'article
582 grammes
Dimensions
241x160x20 mm
Série
Livre 195 sur 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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