Computed Electron Micrographs and Defect Identification - Couverture rigide

 
9780444104625: Computed Electron Micrographs and Defect Identification

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9780444569974: Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7

Edition présentée

ISBN 10 :  0444569979 ISBN 13 :  9780444569974
Editeur : North Holland, 2012
Couverture souple