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computed electron micrographs defect (7 résultats)
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Evaluation du vendeur
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Bonne affaire
EUR 5,84
Expédition à EUR 16,50
Expédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1973. Tome 7. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1973. Volume 7. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Langue: anglais
Edité par North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579
Vendeur : MB Books, Derbyshire, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,67
Expédition à EUR 23,12
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)
Langue: anglais
Edité par North Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 24,95
Expédition à EUR 15,72
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Langue: anglais
Edité par North Holland, Amsterdam, 1973
ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579
Vendeur : Webbooks, Wigtown, Wigtown, Royaume-Uni
Membre d'association : PBFA
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 9,53
Expédition à EUR 34,68
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Cover. Etat : Good. No Jacket. First edition. From an academic library with the usual stamps etc.
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 89,39
Expédition à EUR 14,45
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
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Computed electron micrographs and defect identification (Defects in crystalline solids, Volume 7)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 120,27
Expédition à EUR 28,90
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Computed electron micrographs and defect identification.
Edité par Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
Vendeur : Antiquariat Löcker, Wien, Autriche
Membre d'association : GIAQ ILAB VDA VDAO
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 29
Expédition à EUR 72,50
Expédition depuis Autriche vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
