Articles liés à Computed Electron Micrographs and Defect Identification,...

Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7 - Couverture souple

Head, A. K.

 
9780444569974: Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Couverture souple
ISBN 10 : 0444569979 ISBN 13 : 9780444569974
Editeur : North Holland, 2012
Éditeur
North Holland
Date d'édition
2012
Langue
anglais
ISBN 10 
0444569979
ISBN 13 
9780444569974
Reliure
Broché
Nombre de pages
412
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible