Computed electron micrographs defect par head (4 résultats)
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
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Paperback. Etat : Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
Computed electron micrographs and defect identification.
Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.
Edité par Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
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Ajouter au panierIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
