Computed electron micrographs defect par head (5 résultats)
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
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Vendeur : MB Books, Derbyshire, Royaume-UniMB Books
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Hardcover. Etat : Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request.
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Vendeur : Webbooks, Wigtown, Wigtown, Royaume-UniWebbooks, Wigtown
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Paperback. Etat : Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
Computed electron micrographs and defect identification.
Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.
Edité par Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
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Vendeur : Antiquariat Löcker, Wien, AutricheAntiquariat Löcker
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Ajouter au panierIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
