Articles liés à Electromigration and Electronic Device Degradation
Synopsis
Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
À propos de l'auteur
Aris Christou is the author of Electromigration and Electronic Device Degradation, published by Wiley.
Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Electromigration and Electronic Device Degradation
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation
Edité par
Wiley-Interscience, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : agoodealofbooks, Ypsilanti, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
hardcover. Etat : Very Good. very clean Wiley hardcover no jacket. no marks. clean text. solid binding. very light wear. ISBN matches listing Fast service with confirmation, no international or priority orders over 4lbs. N° de réf. du vendeur mon0000187340
Acheter D'occasion
EUR 194,32
Expédition à EUR 4,33
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation (eng)
Edité par
Wiley-Interscience, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : new. N° de réf. du vendeur b0be1c09d577bd74a3c196f735f7beb7
Acheter neuf
EUR 218,55
Expédition à EUR 6,80
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. N° de réf. du vendeur FW-9780471584896
Acheter neuf
EUR 221,45
Expédition à EUR 6,85
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Electromigration and Electronic Device Degradation
Edité par
Wiley-Interscience, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 33703-n
Acheter neuf
EUR 233,51
Expédition à EUR 2,29
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation
Edité par
Wiley-Interscience, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 33703-n
Acheter neuf
EUR 221,44
Expédition à EUR 17,50
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation
Edité par
Wiley-Interscience, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9780471584896_new
Acheter neuf
EUR 237,06
Expédition à EUR 13,97
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation
Edité par
Wiley-Interscience, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur I-9780471584896
Acheter neuf
EUR 259,90
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation (Hardcover)
Edité par
John Wiley & Sons Inc, New York, 1994
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Edition originale
Vendeur : CitiRetail, Stevenage, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : new. Hardcover. Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9780471584896
Acheter neuf
EUR 252,27
Expédition à EUR 43,15
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Electromigration and Electronic Device Degradation
Edité par
John Wiley & Sons, 1993
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. pp. 344. N° de réf. du vendeur 7349862
Acheter neuf
EUR 293,26
Expédition à EUR 7,58
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 3 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Electromigration
Edité par
John Wiley & Sons, 1994
ISBN 10 : 0471584894
ISBN 13 : 9780471584896
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.Über den AutorAr. N° de réf. du vendeur 446917350
Acheter neuf
EUR 257,59
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles