Testing Semiconductor Memories - Couverture rigide

Goor, A.J.Van De

 
9780471925866: Testing Semiconductor Memories
Couverture rigide
ISBN 10 : 0471925861 ISBN 13 : 9780471925866
Editeur : John Wiley & Sons Ltd, 1991

Synopsis

Comprehensive coverage of memory test problems at chip, array and board level is provided in this book. For each of these test levels a class of fault models is introduced along with tests for these models. The author also presents algorithms of relevant fault models, together with proofs of their correctness. Special attention is given to why a fault model belongs to a particular class and why it is of interest. A software package, suitable for use on IBM PCs and compatibles,is also available which consists of a set of memory test programs and a simulation package demonstrating how the algorithms are executed and the relationship of the algorithm with the memory.

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Éditeur
John Wiley & Sons Ltd
Date d'édition
1991
Langue
anglais
ISBN 10 
0471925861
ISBN 13 
9780471925866
Reliure
Relié
Nombre de pages
535
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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Edition présentée

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Editeur : John Wiley & Sons Ltd, 1991
Couverture souple