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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Edité par
A.J. van de Goor, 1998
ISBN 10 : 9080427616
ISBN 13 : 9789080427617
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Vendeur : BoundlessBookstore, Wallingford, Royaume-Uni
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Hardcover. Etat : Good. Good condition book without dust jacket. Boards are clean with light wear, fading to spine. Book has clean with slight age tone. N° de réf. du vendeur 9999-999107213356
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Edité par
A. J. van de Goor, Gouda, The Netherlands, 1998
ISBN 10 : 9080427616
ISBN 13 : 9789080427617
Ancien ou d'occasion
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Edition originale
Vendeur : About Books, Henderson, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Very Good condition. NOT a library discard (illustrateur). 1st ed? (No additional printings listed. Gouda, The Netherlands: A. J. van de Goor, 1998. Very Good condition. NO chips, tears or fading. We have only this 1 but it is available to ship TODAY from Henderson, Nevada. NO owner's name or bookplate. NOT a library discard. Pages are clean and unmarked. NO underlining. NO highlighting. NO margin notes. Bound in the original green laminated boards. "Goor (EE, Delft U.) presents memory test models on the chip, array, and board level. For each a class of fault models is introduced together with opposite tests. He particularly stresses the appropriateness of fault models to their class." -- Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or. GoodReads rating: 4.50 stars. From an AI overview: "Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice is a comprehensive reference book written by A. J. van de Goor and published in 1991 [this edition 1998]. Book Overview: Author: A.J. van de Goor (Delft University of Technology). Length: 512 pages. Primary Focus: Testing and fault modeling of memory devices across chip, array, and board levels. Key Topics Covered: Memory Architectures: Recaps reliability theory and details static RAM (SRAM) and dynamic RAM (DRAM) cell structures and peripheral circuitry. Fault Models: Introduces major failure modes, including Stuck-at faults, Transition faults, Coupling faults, and Neighbourhood Pattern Sensitive faults (NPSFs).Test Algorithms: Provides functional testing algorithms alongside mathematical proofs for their correctness." NO software included with this 1998 edition. . 1st ed? (No additional printings listed. Hardcover. Very Good condition/No dust jacket, as issued. Illus. by NOT a library discard. 8vo. xxiv, 512pp. Great Packaging, Fast Shipping. N° de réf. du vendeur 032605
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Edité par
A.J. van de Goor, 1998
ISBN 10 : 9080427616
ISBN 13 : 9789080427617
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Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
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Hardcover. Etat : Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! N° de réf. du vendeur S_470265955
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Edité par
A.J. van de Goor, 1998
ISBN 10 : 9080427616
ISBN 13 : 9789080427617
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Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
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Hardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! N° de réf. du vendeur S_340014135
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Edité par
A.J. van de Goor, 1998
ISBN 10 : 9080427616
ISBN 13 : 9789080427617
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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hardcover. Etat : Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book. N° de réf. du vendeur ERICA82990804276164
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Edité par
A.J. van de Goor, 1998
ISBN 10 : 9080427616
ISBN 13 : 9789080427617
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Vendeur : Rob the Book Man, Vancouver, WA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Very Good. Hardback in very good + condition. N° de réf. du vendeur 24164
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