MOS Interface Physics, Process and Characterization - Couverture rigide

Wang, Shengkai; Wang, Xiaolei

 
9781032106274: MOS Interface Physics, Process and Characterization
Couverture rigide
ISBN 10 : 1032106271 ISBN 13 : 9781032106274
Editeur : CRC Press, 2021

Synopsis

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

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À propos de l?auteur

Shengkai Wang is a professor in the Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences. He received Ph.D. from the University of Tokyo in 2011 and has been engaged in Ge, III-V, SiC in MOS technology. He has published more than 100 papers and authorized 40+ patents.

Xiaolei Wang is a professor in the Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences. He received Ph.D. from the Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences in 2013 and has been engaged in Si/Ge based MOS technology. He has published more than 100 papers.

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Éditeur
CRC Press
Date d'édition
2021
Langue
anglais
ISBN 10 
1032106271
ISBN 13 
9781032106274
Reliure
Relié
Nombre de pages
174
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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