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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair - Couverture rigide

 
9781402093647: Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair

Synopsis

Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.

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À propos de l?auteur

Winner of the EDAA (European Design Automation Association) Outstanding Monograph Award in the Verification section. Co-authors Bertacco and Markov are existing Springer authors

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9789048181124: Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair

Edition présentée

ISBN 10 :  9048181127 ISBN 13 :  9789048181124
Editeur : Springer, 2010
Couverture souple

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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2008
ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2008
ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2008
ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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Chang, Kai-hui; Markov, Igor L.; Bertacco, Valeria
Edité par Springer, 2008
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Kai-hui Chang
ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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Hardcover. Etat : new. Hardcover. Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9781402093647

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Kai-Hui Chang
Edité par SPRINGER NATURE Dez 2008, 2008
ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 200 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781402093647

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Edité par Springer, 2008
ISBN 10 : 1402093640 ISBN 13 : 9781402093647
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Kai-hui Chang|Igor L. Markov|Valeria Bertacco
Edité par Springer Netherlands, 2008
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu. N° de réf. du vendeur 4095882

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Kai-Hui Chang
Edité par Springer, 2008
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. N° de réf. du vendeur 9781402093647

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