Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - Couverture souple

Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.

 
9781461315285: Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

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9780792390589: Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing

Edition présentée

ISBN 10 :  079239058X ISBN 13 :  9780792390589
Editeur : Kluwer Academic Publishers, 1989
Couverture rigide