Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B - Couverture souple

9781461365327: Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Couverture souple

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Editeur : Springer, 2012

Afficher les exemplaires de cette �dition comportant l'ISBN

0 D'occasion

12 Neuf

De EUR 46,22

D�tails de l'�dition

�diteur: Springer
Date d'�dition: 2012
Langue: anglais
ISBN 10: 1461365325
ISBN 13: 9781461365327
Reliure: Broch�
Nombre de pages: 648
�diteur: Barrett C.S., Gilfrich John V., Huang Ting C., Jenkins Ron, McCarthy G.J., Predecki Paul K., Ryon R., Smith Deane K.
Coordonn�es du fabricant: GPSR Kontakt
ProductSafety@springernature.com

Slevogtstra�e 3-5
Heidelberg
69126
Allemagne

R�sultats de recherche pour Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis (eng)

Barrett, C.S.

Edit� par Springer, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Couverture souple

impression � la demande

Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

Etat : new. Questo � un articolo print on demand. N� de r�f. du vendeur CGKLTJXYDF

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 46,22

Exp�dition �EUR 11
Exp�dition depuis Italie vers Etats-Unis

Quantit� disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Edit� par Springer, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Couverture souple

Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

Etat : New. In. N� de r�f. du vendeur ria9781461365327_new

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 61,07

Exp�dition �EUR 13,98
Exp�dition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantit� disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B

Barrett, C.S.

Edit� par Springer 2012-11, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf PF

Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

PF. Etat : New. N� de r�f. du vendeur 6666-IUK-9781461365327

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 57,93

Exp�dition �EUR 18,08
Exp�dition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantit� disponible : 10 disponible(s)

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Advances in X-Ray Analysis

C. S. Barrett

Edit� par Springer US Nov 2012, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Taschenbuch

impression � la demande

Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index. 648 pp. Englisch. N� de r�f. du vendeur 9781461365327

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 53,49

Exp�dition �EUR 23
Exp�dition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantit� disponible : 2 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis

Edit� par Springer, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Couverture souple

Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis

�valuation du vendeur 4 sur 5 �toiles

Etat : New. pp. 648. N� de r�f. du vendeur 2658577602

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 84,16

Exp�dition �EUR 3,41
Exp�dition nationale�: Etats-Unis

Quantit� disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis

Edit� par Springer, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Couverture souple

impression � la demande

Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni

�valuation du vendeur 4 sur 5 �toiles

Etat : New. Print on Demand pp. 648 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam. N� de r�f. du vendeur 51014941

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 81,70

Exp�dition �EUR 7,59
Exp�dition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantit� disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis

Huang Ting C. Barrett C.S. Gilfrich John V.

Edit� par Springer, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Couverture souple

impression � la demande

Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne

�valuation du vendeur 4 sur 5 �toiles

Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 648. N� de r�f. du vendeur 1858577608

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 85,87

Exp�dition �EUR 9,95
Exp�dition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantit� disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier

Image d'archives

Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Charles S. Barrett

Edit� par Springer-Verlag New York Inc., 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Paperback / softback

impression � la demande

Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

Paperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days. N� de r�f. du vendeur C9781461365327

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 72,18

Exp�dition �EUR 24,77
Exp�dition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

Quantit� disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Advances in X-Ray Analysis

Edit� par Springer US, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Couverture souple

impression � la demande

Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrum. N� de r�f. du vendeur 4194709

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 48,37

Exp�dition �EUR 48,99
Exp�dition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantit� disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier

Image fournie par le vendeur

Advances in X-Ray Analysis

C. S. Barrett

Edit� par Springer, Springer Nov 2012, 2012

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Neuf Taschenbuch

impression � la demande

Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne

�valuation du vendeur 5 sur 5 �toiles

Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 648 pp. Englisch. N� de r�f. du vendeur 9781461365327

Contacter le vendeur

Acheter neuf

EUR 53,49

Exp�dition �EUR 60
Exp�dition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantit� disponible : 1 disponible(s)

Ajouter au panier

There are 2 autres exemplaires de ce livre sont disponibles

Afficher tous les r�sultats pour ce livre

Articles li�s � Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B - Couverture souple

R�sultats de recherche pour Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

Acheter neuf

There are 2 autres exemplaires de ce livre sont disponibles