Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B - Couverture souple

9781461365327: Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B

Couverture souple

ISBN 10 : 1461365325 ISBN 13 : 9781461365327

Editeur : Springer, 2012

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�diteur: Springer
Date d'�dition: 2012
Langue: anglais
ISBN 10: 1461365325
ISBN 13: 9781461365327
Reliure: Broch�
Nombre de pages: 648
�diteur: Barrett C.S., Gilfrich John V., Huang Ting C., Jenkins Ron, McCarthy G.J., Predecki Paul K., Ryon R., Smith Deane K.
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Advances in X-Ray Analysis (eng)

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Charles S. Barrett

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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 648 pp. Englisch. N� de r�f. du vendeur 9781461365327

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