Predecki paul (87 résultats)
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & John Faber, Jr., & Ron Jenkins, Editors
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Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-UnisReader's Corner, Inc.
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Hardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. Previous owner's blindstamp, otherwise a fine hardcover copy in a fine mylar protected DJ, white spine.
Edité par J Applied Physics 1970
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Vendeur : Larry W Price Books, Portland, OR, Etats-UnisLarry W Price Books
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EUR 6,25
EUR 4,35 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Pamphlet. Etat : Very Good. Vol 41, No 11, pp. 4342-4346, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, else VG.
Edité par J Applied Physics 1966
- Couverture souple
- Périodique
Vendeur : Larry W Price Books, Portland, OR, Etats-UnisLarry W Price Books
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EUR 7,15
EUR 4,35 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Pamphlet. Etat : Very Good. Vol 37, No 11, pp. 4053-4059, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet else VG.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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EUR 22,63
EUR 4,83 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. This is a fine hardcover copy in a fine mylar protected DJ, white spine.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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EUR 22,63
EUR 4,83 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. This is a fine hardcover copy in a fine mylar protected DJ, white spine.
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Vendeur : BookDepart, Shepherdstown, WV, Etats-UnisBookDepart
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EUR 7,42 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Very Good. Hardcover; Volume 32 only; proceedings of the 37th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 1-5, 1988, in Steamboat Springs, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; former owner's stamping on front endpaper; a few small spots at top page edge; in very good condition… with clean text, firm binding. Dust jacket shows light scuffing and shelf wear.
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EUR 22,67
EUR 7,42 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Very Good. Hardcover; Volume 29 only; proceedings of the 34th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 5-9, 1985, in Snowmass, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; light stain at top page corners; fade spots to endpapers; in very good condition with clean text, firm binding…. Dust jacket shows scuffing, light soiling, and a few small edge tears.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden & John C. Russ & Jerome B. Cohen, Editors
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 17,97 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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EUR 3,51 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 1334 1st Edition.
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EUR 7,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 1334.
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 1334.
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 3,51 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 412 Index.
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 3,51 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 648.
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Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-UnisZubal-Books, Since 1961
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EUR 97,51
EUR 3,95 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recip…ient's country. Photos available upon request.
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Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-UnisBasi6 International
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Etat : Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-UnisRomtrade Corp.
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EUR 106,23
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Etat : New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed o…n the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 13,90 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 28 | Paul K. Predecki (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2011 | Springer US | EAN 9781461294993 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: p…reigu.
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 50,35
EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 119,25
EUR 7,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 3,51 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 932.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 63,86 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray flu…orescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
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EUR 61,89
EUR 65,50 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instr…umentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
