Paul k predecki (83 résultats)
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & John Faber, Jr., & Ron Jenkins, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden & John C. Russ & Jerome B. Cohen, Editors
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Taschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray flu…orescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instr…umentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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Etat : New. pp. 932.
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Etat : Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recip…ient's country. Photos available upon request.
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EUR 29,15 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 104,46
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Gebunden. Etat : New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
