Yield Simulation for Integrated Circuits - Couverture souple

Walker, D.M.

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits
Couverture souple
ISBN 10 : 1475719329 ISBN 13 : 9781475719321
Editeur : Springer, 2013

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Synopsis

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2013
Langue
anglais
ISBN 10 
1475719329
ISBN 13 
9781475719321
Reliure
Paperback
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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Couverture rigide