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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Couverture souple

 
9781475790283: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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Synopsis

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

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  • ÉditeurSpringer
  • Date d'édition2013
  • ISBN 10 1475790287
  • ISBN 13 9781475790283
  • ReliurePaperback
  • Langueanglais
  • Nombre de pages476
  • Coordonnées du fabricantnon disponible

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Edition présentée

ISBN 10 :  0306421402 ISBN 13 :  9780306421402
Editeur : Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1986
Couverture rigide