Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Couverture souple

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph

 
9781475790283: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Couverture souple
ISBN 10 : 1475790287 ISBN 13 : 9781475790283
Editeur : Springer, 2013

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Synopsis

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2013
Langue
anglais
ISBN 10 
1475790287
ISBN 13 
9781475790283
Reliure
Paperback
Nombre de pages
476
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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