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This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.
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This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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Springer New York Okt 2016, 2016
ISBN 10 : 1493955292
ISBN 13 : 9781493955299
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime. 824 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781493955299
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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Springer New York, 2016
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Kartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Enables readers to understand and model negative bias temperature instability, with an emphasis on dynamicsIncludes coverage of DC vs. AC stress, duty factor dependence and bias dependenceExplains time dependent defect spectroscopy, as a me. N° de réf. du vendeur 458516196
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits [Paperback] Grasser, Tibor (eng)
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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Taschenbuch. Etat : Neu. Bias Temperature Instability for Devices and Circuits | Tibor Grasser | Taschenbuch | xi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9781493955299 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 103503983
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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ISBN 10 : 1493955292
ISBN 13 : 9781493955299
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 824 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781493955299
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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ISBN 13 : 9781493955299
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
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Springer, 2016
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