Synopsis
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ("become hot"), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
À propos de l?auteur
Tibor Grasser is an Associate Professor at the Institute for Microelectronics for Technische Universität Wien.
Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Autres éditions populaires du même titre
Résultats de recherche pour Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices (eng)
impression à la demandeVendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur d7b8420df1621d123a8f7869a339c9fc
Acheter neuf
EUR 94,25
Expédition à EUR 11
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9783319089935_new
Acheter neuf
EUR 114,38
Expédition à EUR 13,84
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ('become hot'), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance. 528 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783319089935
Acheter neuf
EUR 117,69
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Edité par
Springer International Publishing, 2014
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes the intricacies of hot carrier degradation in modern semiconductor technologiesCovers the entire hot carrier degradation phenomenon, including topics such as characterization, carrier transport, carrier-defect interaction, technological . N° de réf. du vendeur 4498343
Acheter neuf
EUR 98,54
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 26356977244
Acheter neuf
EUR 163,15
Expédition à EUR 3,39
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
impression à la demandeVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. Print on Demand. N° de réf. du vendeur 355513731
Acheter neuf
EUR 166,22
Expédition à EUR 7,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Edité par
Springer, Palgrave Macmillan Nov 2014, 2014
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today¿s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy (¿become hot¿), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 528 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783319089935
Acheter neuf
EUR 117,69
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
impression à la demandeVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. PRINT ON DEMAND. N° de réf. du vendeur 18356977238
Acheter neuf
EUR 172,01
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Edité par
Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2014
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ('become hot'), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance. N° de réf. du vendeur 9783319089935
Acheter neuf
EUR 117,69
Expédition à EUR 64,76
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Brand New. 517 pages. 9.25x6.25x1.50 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3319089935
Acheter neuf
EUR 167,34
Expédition à EUR 17,32
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)