Articles liés à Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Synopsis
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ("become hot"), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
À propos de l'auteur
Tibor Grasser is an Associate Professor at the Institute for Microelectronics for Technische Universität Wien.
Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices (eng)
impression à la demandeVendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur d7b8420df1621d123a8f7869a339c9fc
Acheter neuf
EUR 94,25
Expédition à EUR 11
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Edité par
Springer 978-3-319-08993-5, Cham
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Burton Lysecki Books, ABAC/ILAB, Winnipeg, MB, Canada
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
[978-3-319-08993-5] 2015. (Hardcover) Fine, no dust jacket. 517pp. Black & white and color illustrations, formulas, references. (Science, Science, Semiconductors). N° de réf. du vendeur 159607
Acheter D'occasion
EUR 111,48
Expédition à EUR 22,41
Expédition depuis Canada vers Etats-Unis
Expédition depuis Canada vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ('become hot'), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance. 528 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783319089935
Acheter neuf
EUR 117,69
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur I-9783319089935
Acheter neuf
EUR 140,33
Expédition à EUR 2,69
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 21904474-n
Acheter neuf
EUR 140,65
Expédition à EUR 2,37
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Edité par
Springer International Publishing, 2014
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes the intricacies of hot carrier degradation in modern semiconductor technologiesCovers the entire hot carrier degradation phenomenon, including topics such as characterization, carrier transport, carrier-defect interaction, technological . N° de réf. du vendeur 4498343
Acheter neuf
EUR 98,54
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ('become hot'), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance. N° de réf. du vendeur 9783319089935
Acheter neuf
EUR 133,20
Expédition à EUR 35
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Edité par
Springer, Palgrave Macmillan Nov 2014, 2014
ISBN 10 : 3319089935
ISBN 13 : 9783319089935
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today¿s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy (¿become hot¿), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 528 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783319089935
Acheter neuf
EUR 117,69
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : Books Puddle, Woodside, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 26356977244
Acheter neuf
EUR 182,93
Expédition à EUR 3,58
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Brand New. 517 pages. 9.25x6.25x1.50 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-3319089935
Acheter neuf
EUR 177,24
Expédition à EUR 18
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)