Defect Complexes in Semiconductor Structures: Proceedings Of The International School Held In Matraf�red, Hungary, September 13-17, 1982 (Lecture Notes In Physics) - Couverture souple

9783540119869: Defect Complexes in Semiconductor Structures: Proceedings Of The International School Held In Matraf�red, Hungary, September 13-17, 1982 (Lecture Notes In Physics)

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ISBN 10 : 3540119868 ISBN 13 : 9783540119869

Editeur : Springer, 1983

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�diteur: Springer
Date d'�dition: 1983
Langue: anglais
ISBN 10: 3540119868
ISBN 13: 9783540119869
Reliure: Broch�
Nombre de pages: 320
�diteur: Giber J.
Coordonn�es du fabricant: non disponible
Personne responsable: CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

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ISBN 10 : 0387119868 ISBN 13 : 9780387119861
Editeur : Springer-Verlag, 1983
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Defect complexes in semiconductor structures. Proceedings of the international school held in M�traf�red Hungary September 13 - 17 1982.

Edit� par Berlin, Springer, 1983

ISBN 10 : 3540119868 ISBN 13 : 9783540119869

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Defect Complexes in Semiconductor Structures. Proceedings of the International School Held in M�traf�red, Hungary September 13-17, 1982.

Edit� par Berlin, Springer Berlin Heidelberg, 1983

ISBN 10 : 3540119868 ISBN 13 : 9783540119869

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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School held in M�traf�red, Hungary .,.,.

Giber, J. ; Beleznay, F. ; Sz�p, I. C. ; & L�szl�, J. ; editors :

Edit� par Springer-Verlag, Berlin / Heidelberg, 1983

ISBN 10 : 3540119868 ISBN 13 : 9783540119869

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Defect Complexes in Semiconductor Structures: Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982

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ISBN 10 : 3540119868 ISBN 13 : 9783540119869

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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in M�traf�red, Hungary, September 13 � 17, 1982

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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. A technologist s view on defects.- Characterization of impurities and defects by electron paramagnetic resonance and related techniques.- Review of the possibilities of electron microscopy in the identification of defect structures.- Electrical and optical . N� de r�f. du vendeur 4881624

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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in M�traf�red, Hungary, September 13 � 17, 1982

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Defect Complexes in Semiconductor Structures: Proceedings of the International School Held in M�traf�red, Hungary, September 13 - 17, 1982 (Lecture Notes in Physics, 175)

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