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SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition - Couverture rigide

Reimer, Ludwig

 
9783540639763: SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition
Couverture rigide
ISBN 10 : 3540639764 ISBN 13 : 9783540639763
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 1998

Synopsis

This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

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Éditeur
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Date d'édition
1998
Langue
anglais
ISBN 10 
3540639764
ISBN 13 
9783540639763
Reliure
Relié
Numéro d'édition
2
Nombre de pages
529
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
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Edition présentée

ISBN 10 :  3642083722 ISBN 13 :  9783642083723
Editeur : Springer, 2010
Couverture souple

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Edité par Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764 ISBN 13 : 9783540639763
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Pp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882. N° de réf. du vendeur 114822

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