SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition - Couverture rigide
Livre 40 sur 160: Springer Series in Optical Sciences
Synopsis
This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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ISBN 10 : 3540639764
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 706699/202
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Etat : Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 706699/3
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
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