SCANNING ELECTRON MICROSCOPY.: Physics of Image Formation and Microanalysis, 2nd edition - Couverture rigide
Livre 40 sur 160: Springer Series in Optical Sciences
Synopsis
This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
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Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
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Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
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Etat : Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. N° de réf. du vendeur 706699/3
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Scanning Electron Microscopy | Physics of Image Formation and Microanalysis
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Buch. Etat : Neu. Scanning Electron Microscopy | Physics of Image Formation and Microanalysis | Ludwig Reimer | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1998 | Springer | EAN 9783540639763 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, 69115 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 113173623
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9783540639763
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