Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Couverture rigide

Reichelt, Rudolf; Reimer, Ludwig

Couverture rigide

ISBN 10 : 3540853170 ISBN 13 : 9783540853176

Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 2020

Synopsis

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Détails de l'édition

• Éditeur: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
• Date d'édition: 2020
• Langue: anglais
• ISBN 10: 3540853170
• ISBN 13: 9783540853176
• Reliure: Relié
• Numéro d'édition: 3
• Éditeur: Reichelt Rudolf
• Coordonnées du fabricant: non disponible