Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures - Couverture souple

Livre 109 sur 227: Springer Tracts in Modern Physics

Schubert, Mathias

 
9783540804291: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

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Edition présentée

ISBN 10 :  3540232494 ISBN 13 :  9783540232490
Editeur : Springer-Verlag Berlin and Heide..., 2004
Couverture rigide