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VLSI test(Chinese Edition)
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Electronics Industry Press, 2 Pub. Date :2008-06-0, 2000
ISBN 10 : 7121063077
ISBN 13 : 9787121063077
Neuf
paperback
Vendeur : liu xing, Nanjing, JS, Chine
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paperback. Etat : New. Paperback. Publisher: Electronic Industry Press. 2 Pub. Date :2008-06-01. VLSI testing and design for test methodology have been screening mature. many theories and methods for design and manufacturing sector. widely accepted. has become a basic feature of EDA tools. Systematic compilation of the book so far the mainstream methodology and structure for the reader to a deeper level of circuit design. simulation. testing and analysis to lay a good foundation for the circuit (including circuit-l. N° de réf. du vendeur H32724
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