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Synopsis
As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.
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- ÉditeurSpringer
- Date d'édition2009
- ISBN 10 9048130999
- ISBN 13 9789048130993
- ReliureRelié
- Langueanglais
- Nombre de pages195
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Edité par
SPRINGER NATURE, 2009
ISBN 10 : 9048130999
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Edité par
Springer Netherlands, 2009
ISBN 10 : 9048130999
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents flexible and general techniques for statistical analysis that can be applied to wide variety of circuit applicationsApplies theory from a wide variety of scientific fields (machine learning, computational finance, number theory, actuarial. N° de réf. du vendeur 5817600
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Edité par
Springer Aug 2009, 2009
ISBN 10 : 9048130999
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Buch. Etat : Neu. Neuware - As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime. N° de réf. du vendeur 9789048130993
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