Synopsis
Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty.
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Dordrecht, Springer., 2013
ISBN 10 : 9048196434
ISBN 13 : 9789048196432
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
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ISBN 10 : 9048196434
ISBN 13 : 9789048196432
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior. N° de réf. du vendeur 7919540/12
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Hardcover)
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