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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration - Couverture rigide

 
9789048197248: Low-power High-resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration

Synopsis

Book by Zjajo Amir Pineda de Gyvez Jos

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Présentation de l'éditeur

As the demand rises for low-power, low-voltage A/D converters, so do the quality-control issues in these devices, whose nano-level variables are difficult to control. This work looks at improving power efficiency and enhancing testing and debugging techniques.

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  • ÉditeurSpringer
  • Date d'édition2010
  • ISBN 10 9048197244
  • ISBN 13 9789048197248
  • ReliureRelié
  • Langueanglais
  • Numéro d'édition1
  • Nombre de pages293

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Edition présentée

ISBN 10 :  9402405305 ISBN 13 :  9789402405309
Editeur : Springer, 2016
Couverture souple

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Zjajo, Amir
Edité par Springer 11/5/2010, 2010
ISBN 10 : 9048197244 ISBN 13 : 9789048197248
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Hardback or Cased Book. Etat : New. Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration 1.36. Book. N° de réf. du vendeur BBS-9789048197248

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Zjajo, Amir; Pineda De Gyvez, José
Edité par Springer, 2010
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Amir Zjajo
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -With the fast advancement of CMOS fabrication technology, more and more signal-processing functions are implemented in the digital domain for a lower cost, lower power consumption, higher yield, and higher re-configurability. This has recently generated a great demand for low-power, low-voltage A/D converters that can be realized in a mainstream deep-submicron CMOS technology. However, the discrepancies between lithography wavelengths and circuit feature sizes are increasing. Lower power supply voltages significantly reduce noise margins and increase variations in process, device and design parameters. Consequently, it is steadily more difficult to control the fabrication process precisely enough to maintain uniformity. The inherent randomness of materials used in fabrication at nanoscopic scales means that performance will be increasingly variable, not only from die-to-die but also within each individual die. Parametric variability will be compounded by degradation in nanoscale integrated circuits resulting in instability of parameters over time, eventually leading to the development of faults. Process variation cannot be solved by improving manufacturing tolerances; variability must be reduced by new device technology or managed by design in order for scaling to continue. Similarly, within-die performance variation also imposes new challenges for test methods.In an attempt to address these issues, Low-Power High-Resolution Analog-to-Digital Converters specifically focus on: i) improving the power efficiency for the high-speed, and low spurious spectral A/D conversion performance by exploring the potential of low-voltage analog design and calibration techniques, respectively, and ii) development of circuit techniques and algorithms to enhance testing and debugging potential to detect errors dynamically, to isolate and confine faults, and to recover errors continuously. The feasibility of the described methods has been verified by measurements from the silicon prototypes fabricated in standard 180nm, 90nm and 65nm CMOS technology. 293 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048197248

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Zjajo, Amir; Pineda De Gyvez, José
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Amir Zjajo
Edité par Springer, 2010
ISBN 10 : 9048197244 ISBN 13 : 9789048197248
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - With the fast advancement of CMOS fabrication technology, more and more signal-processing functions are implemented in the digital domain for a lower cost, lower power consumption, higher yield, and higher re-configurability. This has recently generated a great demand for low-power, low-voltage A/D converters that can be realized in a mainstream deep-submicron CMOS technology. However, the discrepancies between lithography wavelengths and circuit feature sizes are increasing. Lower power supply voltages significantly reduce noise margins and increase variations in process, device and design parameters. Consequently, it is steadily more difficult to control the fabrication process precisely enough to maintain uniformity. The inherent randomness of materials used in fabrication at nanoscopic scales means that performance will be increasingly variable, not only from die-to-die but also within each individual die. Parametric variability will be compounded by degradation in nanoscale integrated circuits resulting in instability of parameters over time, eventually leading to the development of faults. Process variation cannot be solved by improving manufacturing tolerances; variability must be reduced by new device technology or managed by design in order for scaling to continue. Similarly, within-die performance variation also imposes new challenges for test methods.In an attempt to address these issues, Low-Power High-Resolution Analog-to-Digital Converters specifically focus on: i) improving the power efficiency for the high-speed, and low spurious spectral A/D conversion performance by exploring the potential of low-voltage analog design and calibration techniques, respectively, and ii) development of circuit techniques and algorithms to enhance testing and debugging potential to detect errors dynamically, to isolate and confine faults, and to recover errors continuously. The feasibility of the described methods has been verified by measurementsfrom the silicon prototypes fabricated in standard 180nm, 90nm and 65nm CMOS technology. N° de réf. du vendeur 9789048197248

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Amir Zjajo|José Pineda de Gyvez
Edité par Springer Netherlands, 2010
ISBN 10 : 9048197244 ISBN 13 : 9789048197248
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Unique combination of design, test, debugging and calibration of A/D converters (probably only on the market)Numerous examples and easy to follow procedure for design, test, debugging and calibration of A/D convertersBoth state-of-the art software and hardw. N° de réf. du vendeur 5822689

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Edité par Springer, 2010
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni

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Hardcover. Etat : Like New. Like New. book. N° de réf. du vendeur ERICA77390481972446

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