Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Langue : anglais

Edité par Taylor and Francis Ltd, GB, 2000

075030748X / 9780750307482

Série : Livre 3 sur 5 - Series in Microscopy in Materials Science

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Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops, because the coverage in general microscopy textbooks is limited and omits many of the problems associated with the analysis of these defects. The book also describes in situ, high-resolution, and analytical techniques. Techniques are illustrated with examples, providing a solid overview of the contribution of TEM to radiation damage mechanisms. The book is most useful to researchers in, or entering into, the field of defect analysis in materials.

N° de réf. du vendeur LU-9780750307482

Titre
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Auteur
M.L Jenkins, M.A Kirk
Éditeur
Taylor and Francis Ltd, GB
Année de publication
2000
État de l'article
New
Reliure
Hardback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
075030748X
ISBN à 13 chiffres
9780750307482
Poids de l'article
540 grammes
Série
Livre 3 sur 5: Series in Microscopy in Materials Science

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