From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)

Livre 28 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Khare, Jitendra B.; Maly, Wojciech

ISBN 10: 0792397142 ISBN 13: 9780792397144
Edité par Springer, 1996
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

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