Data Mining and Diagnosing IC Fails

Livre 15 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Leendert M. Huisman

ISBN 10: 1441937676 ISBN 13: 9781441937674
Edité par Springer US, 2010
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

Vendu par moluna, Greven, Allemagne

Vendeur AbeBooks depuis 9 juillet 2020

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture souple

Etat : Neuf

Prix:
EUR 93
EUR 48,99 shipping
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

Quantité disponible : Plus de 20 disponibles

Ajouter au panier