Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer, 2007

0387465464 / 9780387465463

Série : Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.

N° de réf. du vendeur 9780387465463

Titre
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Auteur
Manoj Sachdev
Éditeur
Springer
Année de publication
2007
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0387465464
ISBN à 13 chiffres
9780387465463
Édition
2ème Édition
Poids de l'article
694 grammes
Dimensions
241x160x24 mm
Série
Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

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