Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Jose Pineda de Gyvez Manoj Sachdev

ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Edité par Springer, 2007
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture rigide

Vendu par Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis

Vendeur AbeBooks depuis 22 novembre 2018

Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles Evaluation 4 étoiles, En savoir plus sur les évaluations des vendeurs

Afficher tous les articles du vendeur


Neuf(s) - Couverture rigide

Etat : Neuf

Prix:
EUR 267,33
EUR 3,39 shipping
Expédition nationale : Etats-Unis

Quantité disponible : 4 disponible(s)

Ajouter au panier