Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer US Jun 2007, 2007

0387465464 / 9780387465463

Série : Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance. 352 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9780387465463

Titre
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Auteur
José Pineda de Gyvez
Éditeur
Springer US Jun 2007
Année de publication
2007
État de l'article
Neu
Reliure
Buch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0387465464
ISBN à 13 chiffres
9780387465463
Édition
2ème Édition
Poids de l'article
694 grammes
Dimensions
241x160x24 mm
Série
Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Allemagne

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