Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Langue : anglais
Edité par Springer US, Springer New York Nov 2010, 2010
- Livre broché
- Neuf
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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent. 352 pp. Englisch.…
N° de réf. du vendeur 9781441942852
- Titre
- Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
- Auteur
- José Pineda de Gyvez
- Éditeur
- Springer US, Springer New York Nov 2010
- Année de publication
- 2010
- État de l'article
- Neu
- Reliure
- Taschenbuch
- Langue
- anglais
- ISBN à 10 chiffres
- 1441942858
- ISBN à 13 chiffres
- 9781441942852
- Poids de l'article
- 534 grammes
- Dimensions
- 235x155x20 mm
- Série
- Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing
This book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without its insight into the physics of nano-metric technologies, it would be difficult to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. The work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. The 2nd edition of Defect Oriented Testing has been extensively updated with the addition of chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering to provide a link between defect sources and yield. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.
« Synopsis » peut appartenir à une autre édition de cet ouvrage.
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