Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer US, Humana Nov 2010, 2010

1441942858 / 9781441942852

Série : Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 352 pp. Englisch.…

N° de réf. du vendeur 9781441942852

Titre
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Auteur
José Pineda de Gyvez
Éditeur
Springer US, Humana Nov 2010
Année de publication
2010
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1441942858
ISBN à 13 chiffres
9781441942852
Poids de l'article
534 grammes
Dimensions
235x155x20 mm
Série
Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

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