Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)

Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Sachdev, Manoj; Pineda de Gyvez, José

ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Edité par Springer, 2007
Langue: anglais
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