Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))

Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Sachdev, Manoj, Pineda de Gyvez, José

ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Edité par Springer, 2010
Langue: anglais
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