Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Langue : anglais

Edité par Springer, 2007

0387465464 / 9780387465463

Série : Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without its insight into the physics of nano-metric technologies, it would be difficult to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. The work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. The 2nd edition of Defect Oriented Testing has been extensively updated with the addition of chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering to provide a link between defect sources and yield. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 642.

Titre
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Auteur
Manoj Sachdev, Jos? Pineda de Gyvez
Éditeur
Springer
Année de publication
2007
État de l'article
Neu
Reliure
Gebundene Ausgabe
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0387465464
ISBN à 13 chiffres
9780387465463
Édition
2ème Édition
Poids de l'article
642 grammes
Série
Livre 18 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

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