Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for . / Materials Physics and Applications)

Robert McDonald,David G. Seiler,Alain C. Diebold

ISBN 10: 0735404410 ISBN 13: 9780735404410
Edité par American Institute of Physics (edition 2007), 2007
Langue: anglais
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