Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability

Langue : anglais

Edité par Morgan & Claypool, 2005

1598290045 / 9781598290042

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N° de réf. du vendeur 121985

Titre
Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability
Auteur
Young-Hee Kim; Jack C. Lee
Éditeur
Morgan & Claypool
Année de publication
2005
État de l'article
Acceptable
Type de livre
Ex-Library
Reliure
Soft Cover
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1598290045
ISBN à 13 chiffres
9781598290042

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