High Performance Memory Testing

Langue : anglais

Edité par Springer US Apr 2013, 2013

1475784740 / 9781475784749

Série : Livre 12 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. 264 pp. Englisch.

N° de réf. du vendeur 9781475784749

Titre
High Performance Memory Testing
Auteur
R. Dean Adams
Éditeur
Springer US Apr 2013
Année de publication
2013
État de l'article
Neu
Reliure
Taschenbuch
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
1475784740
ISBN à 13 chiffres
9781475784749
Poids de l'article
406 grammes
Dimensions
235x155x15 mm
Série
Livre 12 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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