Integrated Circuit Failure Analysis

Langue : anglais

Edité par John Wiley & Sons, 1998

0471974013 / 9780471974017

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The construction and failure analysis of highly integrated semiconductor components has gained in significance with the explosive growth in the semiconductor industry. Once a subordinate laboratory task, semiconductor failure analysis has now become a disci.

N° de réf. du vendeur 446918915

Titre
Integrated Circuit Failure Analysis
Auteur
F Beck
Éditeur
John Wiley & Sons
Année de publication
1998
État de l'article
New
Reliure
Gebunden
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0471974013
ISBN à 13 chiffres
9780471974017

moluna

Greven, Allemagne

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