Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Langue : anglais

Edité par Springer Verlag, 2010

3642064531 / 9783642064531

Série : Livre 3 sur 233 - Springer Series in Materials Science

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Titre
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Auteur
Rein, Stefan
Éditeur
Springer Verlag
Année de publication
2010
État de l'article
Brand New
Reliure
Paperback
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3642064531
ISBN à 13 chiffres
9783642064531
Poids de l'article
0,88 kilogramme
Série
Livre 3 sur 233: Springer Series in Materials Science

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