Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)

Langue : anglais

Edité par Springer, 2005

3540253033 / 9783540253037

Série : Livre 3 sur 233 - Springer Series in Materials Science

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Titre
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
Auteur
Rein, Stefan
Éditeur
Springer
Année de publication
2005
État de l'article
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Type de livre
book
Reliure
Hardcover
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
3540253033
ISBN à 13 chiffres
9783540253037
Série
Livre 3 sur 233: Springer Series in Materials Science

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