Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics

Langue : anglais

Edité par ARTECH HOUSE INC, 1989

0890062846 / 9780890062845

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KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures.

N° de réf. du vendeur 898961510

Titre
Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics
Auteur
Hakim, Edward B.
Éditeur
ARTECH HOUSE INC
Année de publication
1989
État de l'article
New
Reliure
Gebunden
Langue
anglais
ISBN à 10 chiffres
0890062846
ISBN à 13 chiffres
9780890062845
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