Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK. Cet article n’est pas disponible.
Langue : anglais
Edité par Springer, Berlin, Springer, 2006
- Livre relié
- Neuf
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Etat: Neuf
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A propos de cet article
Neuware - Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Epitaxy: Silicon-Germanium Alloys.- Epitaxy: Growth and Defect Phenomena.- High Resolution Microscopy and Nanoanalysis.- Self-Organised and Quantum Domain Structures.- Processed Silicon and Other Device Materials.- Device Studies.- Scanning Electron and Scanning Probe Advances.
N° de réf. du vendeur 9783540319146
- Titre
- Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
- Auteur
- A.G. Cullis
- Éditeur
- Springer, Berlin, Springer
- Année de publication
- 2006
- État de l'article
- Neu
- Reliure
- Buch
- Langue
- anglais
- ISBN à 10 chiffres
- 354031914X
- ISBN à 13 chiffres
- 9783540319146
- Poids de l'article
- 992 grammes
- Dimensions
- 241x160x35 mm
- Série
- Livre 13 sur 166: Springer Proceedings in Physics
The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.
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